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銅片四探針電阻率測試儀本標準與SEMIMF84-1105和SEMI MF 397-1106相比,主要變化如下:卜全因斤的試件,如來遠用視展電況在數(shù)但上等于2,則兩內探什之間則得的電勢力。

ITO導電箔膜低阻測試儀探針間距數(shù)據(jù)的輸入，探針間距出廠時已經(jīng)標定，無需再次測量，探針頭上有詳細的探針數(shù)據(jù)資料，探針間距的設置：將光標移動至“探針間距”按“設置”鍵進入，通過面板上面的“數(shù)字”按鍵輸入數(shù)據(jù)按“確定”鍵進行確認；按照以上方法和步驟設定”厚度“，注意厚度和探針間距修正系數(shù)表已經(jīng)設置在儀器程序中，自動修正，無需再次輸入和查詢表格。

直流導電電阻測試儀配置手動粉末測試裝置也可以（選購）自動粉末測試裝置，測試粉末時可以通過裝置獲得粉末壓實后高度、直徑、壓強等數(shù)據(jù)，輸入儀器后自動計算出所需數(shù)據(jù).能方便解決粉末及顆粒物料電阻、電阻率及電導率測量需求，經(jīng)濟實惠，功能突出，設計合理，是粉末行業(yè)理想之測試儀器.

2439薄膜防靜電體積電阻率測試儀存儲溫度和濕度-10℃ 到 60℃ 80%RH 以下(無凝結)操作環(huán)境 室內,高海拔 2000m

薄膜體積電阻表面電阻率測試儀GB/T 10064-2006《測定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗方法》。適用范圍：適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。